一、JTAG/SWD调试原理
1.1 调试原理简析
STM32F4xx的内核是CortexTM-M4F，该内核包含用于高级调试功能的硬件。利用这些调试功能，可以在取指(指令断点)或取访问数据(数据断点)时停止内核。内核停止时，可以，查询内核的内部状态和系统的外部状态。查询完成后，将恢复内核和系统并恢复程序执行。当调试器与STM32F4xx MCU相连并进行调试时，将使用内核的硬件调试模块。
提供两个调试接口:
- 串行接口
- JTAG调试接口
引脚情况
引脚调用，如果是都没有，5个引脚都会被释放，如果是SW只有2个引脚被占用
端口复用映射
二、在实验中讲解调试方法
2.1 调试之前的配置
几个步骤，我就直接截图了
2.2 调试
点击Peripherals，即外设
就可以看到每一个寄存器的位，也可以去设置值
查看某个变量的值
多练，多实际操作
