Problem Description：

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。  

Input：

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i,  j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本  身进行测试）。  

Output：

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号。  

Sample Input：

3

1 0 1

0 1 0

1 0 1

Sample Ouput：

1 3

解题思路：

注意题中说的“好芯片比坏芯片多”，所以对于每个芯片，可以记录其他行的芯片对该芯片的“投票”，

由于好芯片多，所以投票结果是r> w，则该芯片为好，否则为坏。

(强调是其它芯片对它检测，而不是它对其他芯片检测)

 

程序代码：

#include<iostream>
using namespace std;
int a[25][25],n;
int main()
{
  cin>>n;
  for(int i=1;i<=n;i++)
    for(int j=1;j<=n;j++)
      cin>>a[i][j];
  for(int i=1;i<=n;i++)
  {
    int r=0,w=0;
    for(int j=1;j<=n;j++)
    {
      if(a[j][i]==1)
        r++;
      else
        w++;
    }
    if(r>w)
      cout<<i<<" ";
  }
  cout<<endl;
  return 0;
}