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上一节中，我们详细讲述了Z-Stack中按键检测的两种机制——“轮询模式”和“中断模式”。从实现原理来看，“中断模式”比“轮询模式”更加灵敏；更重要的是，在低功耗模式下，“中断模式”功耗更低！因此，在实际应用中，我们更多的是选用“中断模式”来进行按键检测。
这里我们就一起从以下4部分，来实现在Z-Stack协议栈中通过“中断模式”进行按键检测。
1、Z-Stack中原本的按键布局
2、本次实验开发板按键布局
3、“中断模式”按键驱动移植
4、“轮询模式”按键驱动移植
1、Z-Stack中原本的按键布局
详见下表（整理自《Z-Stack User's Guide - CC2530DB.pdf》）：
由上表可以看出，TI的官方评估板上除了普通按键之外，还使用了一个五向按键（摇杆joystick）。利用ADC采样实现了一个多功能按键，由于具体实现代码相对较复杂，而在实际应用中很少使用五向按键，所以这里就不详细说明了。如果感兴趣的话，可以使用微雪ZigBee开发板的ZB600底板，上面就有一个五向按键，如下图所示：
Software Mapping
Joystick/Button
Description
IO
HAL_KEY_SW_1
UP
Joystick UP
P0_6
基于模拟量
判断键值
HAL_KEY_SW_2
RIGHT
Joystick RIGHT
HAL_KEY_SW_3
DOWN
Joystick DOWN
HAL_KEY_SW_4
LEFT
Joystick LEFT
HAL_KEY_SW_5
PRESS
Joystick CENTER
P2_0
HAL_KEY_SW_6
S1
Button 1
P0_1
HAL_KEY_SW_7
S2
Button 2
未定义
可以用来做相关实验，此处就不再赘述~
2、本次实验开发板按键布局
本次实验使用的开发板，依旧是微雪的ZigBee开发板（底板为ZB502），对应按键部分原理图如下：
我们将实现的两个按键：
（1）KEY1，P0_1，低电平有效（下降沿触发），对应HAL_KEY_SW_1；
（2）KEY2，P2_0，高电平有效（上升沿触发），对应HAL_KEY_SW_2；
其实也就是对Z-Stack中的按键进行重新布局：
Software Mapping
Button
Description
IO
HAL_KEY_SW_1
S1
Button 1
P0_1
HAL_KEY_SW_2
S2
Button 2
P2_0
HAL_KEY_SW_3
未定义
未定义
未定义
HAL_KEY_SW_4
未定义
未定义
未定义
HAL_KEY_SW_5
未定义
未定义
未定义
HAL_KEY_SW_6
未定义
未定义
未定义
HAL_KEY_SW_7
未定义
未定义
未定义
（以下步骤按程序运行流程进行）
3、“中断模式”按键驱动移植
本次移植会改动到的文件有：OnBoard.c、hal_key.c、hal_key.h、hal_board_cfg.h、ProjectApp.c；除了hal_key.c和hal_key.h之外，其余文件改动都非常少，所以这边仅给出其余文件的改动说明，hal_key.c和hal_key.h两个文件请直接从网盘链接下载查看；
（1）进入OnBoard.c文件，找到InitBoard( )函数中的下面这行代码：
HalKeyConfig(HAL_KEY_INTERRUPT_DISABLE, OnBoard_KeyCallback);改为如下：
HalKeyConfig(HAL_KEY_INTERRUPT_ENABLE, OnBoard_KeyCallback);即可将按键检测模式选为“中断模式”；（2）进入hal_board_cfg.h文件，找到如下这段宏定义：
/* S1 */ #define PUSH1_BV BV(1) #define PUSH1_SBIT P0_1 #if defined (HAL_BOARD_CC2530EB_REV17) #define PUSH1_POLARITY ACTIVE_HIGH #elif defined (HAL_BOARD_CC2530EB_REV13) #define PUSH1_POLARITY ACTIVE_LOW #else #error Unknown Board Indentifier #endif /* Joystick Center Press */ #define PUSH2_BV BV(0) #define PUSH2_SBIT P2_0 #define PUSH2_POLARITY ACTIVE_HIGH精简修改为：
/* S1 */ #define PUSH1_BV BV(1) #define PUSH1_SBIT P0_1 #define PUSH1_POLARITY ACTIVE_LOW /* S2 */ #define PUSH2_BV BV(0) #define PUSH2_SBIT P2_0 #define PUSH2_POLARITY ACTIVE_HIGH（3）修改hal_key.c文件
此文件中修改较多，此处就不一一说明了，请直接从网盘链接下载查看；此处只着重强调一下两个函数：
a、HalKeyInit( )
该函数中实现的功能，就是对所有使用的按键对应的IO口做普通IO输入的初始化，具体到本次实验中为：i、 配置P0_1为：普通IO、输入、上拉（上电默认高电平）；
ii、配置P2_0为：普通IO、输入、下拉（上电默认低电平）；
仔细阅读原版代码会发现，协议栈中定义的变量“halKeySavedKeys”对我们的应用并无实际用处，故删除或注释；请仔细阅读修改后的HalKeyInit( )函数，并与原版代码对照；
b、HalKeyConfig( )
该函数在《ZigBee CC2530 Z-Stack 15 按键驱动移植及使用1-检测机制（轮询模式与中断模式）》中已经详细解释过了，我们需要修改的只有该函数中的if( ){ }else{ }条件判断语句这部分代码：
/* Determine if interrupt is enable or not */ if (Hal_KeyIntEnable) { ...... } else /* Interrupts NOT enabled */ { ...... }（4）修改hal_key.h文件
该文件中只是对键值的定义做了修改，以及删除了我们实际应用中并不会用到的五向按键（摇杆joystick）相关的代码，更加精炼；代码详情也请直接从网盘链接下载查看；
（5）实验验证
亲测成功，按键检测非常灵敏！
4、“轮询模式”按键驱动移植
如果连相对复杂的“中断模式”都完全OK了的话，那“轮询模式”再看起来就要简单的多了。从“中断模式”切换到“轮询模式”，仅需做一步修改：进入OnBoard.c文件，找到InitBoard( )函数中的下面这行代码：
HalKeyConfig(HAL_KEY_INTERRUPT_ENABLE, OnBoard_KeyCallback);改为如下：
HalKeyConfig(HAL_KEY_INTERRUPT_DISABLE, OnBoard_KeyCallback);即可将按键检测模式重新选为“轮询模式”！“轮询模式”的按键检测时间间隔为100ms（即频率为10次/秒），由hal_drivers.c文件中下面这段代码决定：
uint16 Hal_ProcessEvent( uint8 task_id, uint16 events ) { ...... if (!Hal_KeyIntEnable) { osal_start_timerEx( Hal_TaskID, HAL_KEY_EVENT, 100); } ...... }
实验验证发现，在按键操作频率较低的情况下，“轮询模式”按键检测几乎没有任何问题。但是当按键操作频率加快后，就会开始出问题了（请亲自实验感受）！“中断模式”自然是不存在这种问题。为了检测更准确，可以适当提高“轮询模式”下检测频率。比如将100ms改为50ms，但是这种改动很有可能又会产生新的问题，如：CPU负载提升、功耗提升等等。
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