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2026年04月

  • 04.27 14:41:13
    发表了文章 2026-04-27 14:41:13

    混合键合良率卡脖子?屹立芯创SRS:预键合与退火之间的关键一步

    混合键合是先进半导体封装技术,通过Cu-Cu与氧化物-氧化物同步键合,实现<1μm超细间距、百万级互连密度。其良率瓶颈在于预键合界面缺陷,屹立芯创SRS系统创新引入低温应力消除环节,以热塑形变、蠕变松弛和真空除气三位一体方案,显著提升键合质量与可靠性。(239字)

2025年12月

  • 发表了文章 2026-04-27

    混合键合良率卡脖子?屹立芯创SRS:预键合与退火之间的关键一步

  • 发表了文章 2025-12-31

    AI芯片算力翻10倍,背后的“隐形功臣”与“中国力量”

  • 发表了文章 2025-12-18

    CoWoS、3D IC、Chiplet混战:先进封装的“技术路线之争“到底在争什么?

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