ATPG故障排除

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    前言——芯片由MPW试产进入量产阶段的时候,DFT可测性设计是前后端设计者都无法绕过的必修课。DFT的设计,既属于芯片功能设计的范畴,又对后端的设计流程有显性的影响。 前端设计者需要理解: DFT可测性设计都做些什么? 是如何实现存储器、IO和逻辑的测试的? DFT系统是如何搭建的? DFT的I...

    文章 温柔的养猫人 2019-12-24 2276浏览量

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