Android性能测试——发现和定位内存泄露和卡顿
本文详细介绍了Android应用性能测试中的内存泄漏与卡顿问题及其解决方案。首先,文章描述了使用MAT工具定位内存泄漏的具体步骤,并通过实例展示了如何分析Histogram图表和Dominator Tree。接着,针对卡顿问题,文章探讨了其产生原因,并提供了多种测试方法,包括GPU呈现模式分析、FPS Meter软件测试、绘制圆点计数法及Android Studio自带的GPU监控功能。最后,文章给出了排查卡顿问题的四个方向,帮助开发者优化应用性能。