实验目的
（1）将双端口通用寄存器堆和双端口存储器模块联机；
（2）进一步熟悉计算机的数据通路；
（3）掌握数字逻辑电路中故障的一般规律，以及排除故障的一般原则和方法；
（4）锻炼分析问题与解决问题的能力，在出现故障的情况下，独立分析故障现象，并排除故障。
实验任务
（1）将实验电路与控制台的有关信号进行线路连接，方法同前面的实验。
（2）用８位数据开关向RF中的四个通用寄存器分别置入以下数据：R0＝0FH，R1＝F0H，R2 ＝55H，R3＝AAH。
给R0置入0FH的步骤是：先用８位数码开关SW0—SW7将0FH置入ER，并且选择WR1＝0、WR0 = 0、WRD = 1，再将ER的数据置入RF。给其他通用寄存器置入数据的步骤与此类似。
（3）分别将R0至R3中的数据同时读入到DR2寄存器中和DBUS上，观察其数据是否是存入R0至R3中的数据，并记录数据。其中DBUS上的数据可直接用指示灯显示，DR2中的数据可通过运算器ALU，用直通方式将其送往DBUS。
（4）用８位数码开关SW0—SW7向AR1送入一个地址0FH，然后将R0中的0FH写入双端口RAM。
用同样的方法，依次将R1至R3中的数据写入RAM中的0F0H、55H、0AAH单元。
实验实操步骤
第一步：打开组原实验的仿真面板并进行线路连接
第二步：用８位数据开关向RF中的四个通用寄存器分别置入以下数据：R0＝0FH，R1＝F0H，R2 ＝55H，R3＝AAH
第三步：将R0至R3中的数据同时读入到DR2寄存器中和DBUS上
第四步：用８位数码开关SW0—SW7向AR1送入一个地址0FH，然后将R0中的0FH写入双端口RAM
第五步，把RAM中的数据相反的导入RF中，并验证是否正确
因笔者的疏忽，部分步骤的图里可能没有写执行QD操作，事实上，每一步都要执行QD进行操作的，第五步里也缺少一个步骤，即图中蓝色字体所描绘的步骤，把RAM中的数据写入ER这个步骤，如果有不理解的地方，可以在评论区进行评论，谢谢大家。感谢大家的浏览！
